（Ux-720）能量色散型X射線熒光分析儀采用了FlexFP-Multi技術(shù)，無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。

（Ux-720）能量色散型X射線熒光分析儀微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。

X射線熒光技術(shù)測試鍍層厚度的應(yīng)用，提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗條件，無損、快速和更準(zhǔn)確的特點，對在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗的保障。

Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術(shù)FlexFp -Multi，不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制，在無鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗證。

標(biāo)準(zhǔn)配件

樣品固定支架1支

窗口支撐薄膜：100張

保險管：3支

計算機主機：品牌+雙核

顯示屏：19吋液晶

打印機：噴墨打印機

可選配件

可升級為SDD探測器

樣品移動設(shè)計為樣品腔外部調(diào)節(jié)，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于提升效率。

設(shè)計更科學(xué)，軟硬件配合，機電聯(lián)動，輻射安全高于國標(biāo)GBZ115-2002要求。

軟件操作具有操作人員分級管理權(quán)限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸，測試的記錄報告同時自動添加測試人的登錄名稱。

產(chǎn)品規(guī)格：

測厚技術(shù)：X射線熒光測厚技術(shù)

測量下限：0.003um

測量上限：30-50um（以材料元素判定）

測量層數(shù)：10層

測量用時：30-120秒

探測器類型：Si-PIN電制冷 

探測器分辨率：145eV

高壓范圍：0-50KV，50W

X光管參數(shù)：0-50KV，50W，側(cè)窗類；

光管靶材：Mo靶；

濾光片：4種自動切換；

CCD觀察：260萬像素

微移動范圍：XY15mm

輸入電壓：AC220V，50/60Hz

測試環(huán)境：非真空條件

數(shù)據(jù)通訊：USB2.0模式

準(zhǔn)直器：Ø0.5mm，Ø1mm，Ø2mm，Ø4mm

軟件方法：FlexFP-Mult

工作區(qū)：開放工作區(qū)自定義

樣品腔：330×350×75mm 

應(yīng)用領(lǐng)域

用于電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)，專門針對金屬合金、鋁型材、塑料等材料鍍層分析、達克羅涂覆層分析。可對客戶樣品鍍層膜厚測試、基材成分分析。